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1、产品特点：
EIGER2 R CdTe X射线探测器将混合像素光子计数探测器的z新发展和碲化镉感光器件的高量子效率集合在一起。对于使用高能量 X 射线源或需要双阈值设置时， EIGER2 R CdTe是z优的选择。
DECTRIS 公司的专利即时触发技术使他们具有前所未有的高计数率能力，可以更精确地测量实验室X射线源所能达到的z高强度。EIGER2 R CdTe探测器具有两个能量阈值，所以与上一代探测器相比，它在环境背景下拥有更低的暗电流和背景噪音。这大大提高了弱信号和长时间曝光的信噪比，使得它在更短的测量时间下能获得更好的数据质量。单光子计数与计数器连续读/写技术相结合，克服了传统积分探测器容易饱和以及动态范围有限的问题。此外，感光像素直接将X射线转化为电信号，配合 75μm的小像素尺寸使得探测器具有更高的空间和角度分辨率。
2、核心优势：
– 针对高能射线有z高的量子效率、更短的测试时间和更高质量的数据
– 即时触发技术使得计数率大幅度提高
– 双能阈值，可用于低背景和高背景的抑制
– 无读出噪音和暗电流，确保了z佳的信噪比
– 计数器具有同时读/写功能，确保了高动态范围和无饱和的图像
3、应用领域：
- 大分子晶体学（MX）；
- 化学结晶学；
- 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）；
- μCT；
- 高压晶体学；
技术参数：
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型号 |
EIGER2 R CdTe 500K |
EIGER2 R CdTe 1M |
EIGER2 R CdTe 4M |
EIGER2 R CdTe 2M-W |
EIGER2 R CdTe 1M-W |
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有效面积：宽x高 [mm2] |
77.1 X 38.4 |
77.1 x 79.7 |
155.1 x 162.2 |
311.1 x 38.4 |
155.1 x 38.4 |
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像素大小 [μm2] |
75 x 75 |
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总像素数量 |
1028x512 |
1028 x 1062 |
2068 x 2162 |
4148 x 512 |
2068 x 512 |
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z大帧频* [Hz] |
100 |
100 |
20 |
50 |
100 |
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计数器深度 [ bit ] |
16 |
16 |
16 |
16 |
16 |
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读出时间 |
连续读数 |
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点扩散函数 |
1 pixel |
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传感器材料 |
CdTe |
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传感器厚度 [μm] |
750 |
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能量范围 [keV] |
8-25 (8-100, with optional extended energy range calibration) |
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z大计数率 [ph/s/pixel] |
5.5 x 106 |
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尺寸（WHD）[mm3] |
114 x 133 x 242 |
235 x 237 x 372 |
340 x 370 x 500 |
400 x 430 x 500 |
340 x 370 x 500 |
|
重量 [kg] |
3.7 |
4.7 |
15 |
9.7 |
5.8 |
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冷却方式 |
水冷（模块）/风冷（电子学） |
水冷（模块）/风冷（电子学） |
水冷（模块）/风冷（电子学） |
水冷（模块）/风冷（电子学） |
水冷（模块）/风冷（电子学） |
北京优纳珂科技有限公司是瑞士DECTRIS（德科特思）指定的在中国地区同步辐射和科研实验室总代理。负责DECTRIS（德科特思）产品在中国软硬件的售前售后，EIGER2、PILATUS3、MYTHEN2、ELA、QUADRO、SINGLA探测器参数。公司拥有专业的销售、服务团队，为您提供产品咨询、设备安装、设备维护等专业的一站式服务。公司秉承提供一流的产品、精湛的技术与良好的服务态度，本着“信誉第一、客户至上”的原则，竭诚为您服务。详情请致电400 188 9798或登录网址www.unite-tech.com了解更多信息。